Güneş pili üretilecek

Bartın Üniversitesi Merkezi Araştırma Laboratuvarı Uygulama ve Araştırma Merkezi’ne Rektör Ramazan Kaplan’ın yoğun çabaları sonucu 2014 yılında 1.5 milyon TL’ye alınan Taramalı Elektron Mikroskobu sayesinde güneç pili üretilecek.   Yapılan çalışmalarla  bilgiler veren Uygulama ve Araştırma Merkezi Uzmanı Halil Eşgin: “Bizim sahip olduğumuz tüm cihazlardan ilimizdeki ve tüm ülke genelindeki herkesin istifade etmesi mümkün. Tüm sektörlere hitap eden bir cihaz. Sahip olduğu dedektörlerle yüksek çözünürlüğünden ötürü şua an Türkiye’de ilk olma özelliğine sahip. 1 milyon büyütmeye kadar çıkabiliyoruz. Güneş pilleri üzerine çalışmalar gerçekleştirmekteyiz. Bu çalışmaları bizzat ben yürütüyorum” şeklinde belirtti.

Düşük voltaj değerlerinde bile ultra yüksek çözünürlük sağlıyor

Taramalı Elektron Mikroskobu ile ilgili bilgiler veren Eşgin: “Laboratuvarımızda TESCAN firması tarafından üretilen MAIA3 analitik taramalı elektron mikroskobu kullanılmaktadır. Düşük voltaj değerlerinde bile ultra yüksek çözünürlük sağlamaktadır. Bu sayede, taramalı elektron mikroskobu (SEM) kullanan birçok bilim adamının karşılaştığı yüksek voltajlarda iletken olmayan malzemelerdeki yük birikimi ve hassas numunelere verilen zararlar bertaraf edilmiş olunur. MAIA3 15 kilovatta 1’nm çözünürlük sağlarken, 1 kilovattaki çözünürlük performansı ise 1,4 nm’dir. Ayrıca, STEM modunda ikincil elektronları kullanarak 30 kilovatta de 0,8 nm çözünürlük sağlamaktadır” şeklinde ifade etti.

Geleneksel lenslere oranla çok daha iyi çözünürlük değerlerine ulaşılır

Çok ince yüzey detayların bile tam anlamıyla görüntülenebildiğini belirten Eşgin: “Ultra yüksek çözünürlüklü taramalı elektron mikroskobu MAIA3’ün temelini, Schottky alan emisyon tabancasıyla donatılmış TESCAN tescilli üç lens kolonu ve TESCAN’in eşsiz tasarımlı 60° immersion objective lensi oluşturur. Immersion objective lens sayesinde optik sapmalar ciddi bir oranda azaltılarak düşük voltajlarda bile diğer geleneksel lenslere oranla çok daha iyi çözünürlük değerlerine ulaşılır. Numunelerin, iletken olmayan malzemeler de dahil olmak üzere çok geniş yelpazede olduğu göz önüne alındığında, birincil elektron demetini düşük enerji değerlerinde tutma gereksinimi doğacaktır. Bu durumlarda, MAIA3’ün analitik performansı Beam Deceleration Technology (BDT) kullanılarak arttırılabilir. BDT modu, ultra düşük elektron iniş enerjisi ile 50 eV’a kadar yük birikmesi ya da numuneye hasar verme gibi durumları engelleyerek çok ince yüzey detaylarında bile tam görüntüleme imkanı sağlar” şeklinde belirtti.

Geniş alanda tarama gerçekleştirilebiliyor

Cihazda farkılı görüntüleme modlarının olduğunu söyle Eşgin: “TESCAN optikleri objektif lense ek olarak farklı görüntüleme modlarının kullanımına imkan sağlayan bir ara lens de içerir. RESOLUTION modu sayesinde numune ultra high çözünürlük için bir manyetik alan içerisine sokulur. FIELD modunda numune manyetik alana sokulmaksızın geniş alanda tarama gerçekleştirilir. DEPTH modunda ise alan derinliği arttırılarak yine manyetik alan içerisinde görüntüler elde edilir. MAIA3’ün dedektör sistemi birçok farklı sinyali algılayabilmek için numune çemberinde bulunan standart SE, BSE ve STEM dedektörlerine ek olarak kolon içerisinde TESCAN tescilli In-Beam SE, In-Beam BSE (ki bu dedektör BDM modunda SE dedektörü olarak davranır) dedektörlerinden oluşur. MAIA3 için LM (large), XM (extra-large) ve GM (giant) olmak üzere üç farklı çember seçeneği mevcuttur. Bütün çember seçenekleri numune hareketi için 5 eksenli bilgisayar kontrollü motorize stage’e ve EDX, EBSD için ideal geometriye sahiptir” dedi.